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Giovanna Mura 2020-07-19 20:27:10

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Lug 192020
 
Sessione d’esame di Affidabilità dei dispositivi elettronici 11 Gennaio 2021 ore 10 https://teams.microsoft.com/l/meetup-join/19%3ameeting_NjNkMjQyYjQtMzFlNS00ZmQwLTg5MjQtN2QyNTU0N2ZhZDk2%40thread.v2/0?context=%7b%22Tid%22%3a%226bfa74cc-fe34-4d57-97d3-97fd6e0edee1%22%2c%22Oid%22%3a%22fa600c52-4b38-4d4c-bd4a-7f1ba8eab40d%22%7d … Colloquio_borsa di ricerca DIEE Bando n.14/2020 20 Luglio 2020 ore 9 https://teams.microsoft.com/l/meetup-join/19%3ameeting_ZGViZjNiMWEtNzRhMS00N2I0LWI4MjUtNDk3NmYxYjI1NmZl%40thread.v2/0?context=%7b%22Tid%22%3a%226bfa74cc-fe34-4d57-97d3-97fd6e0edee1%22%2c%22Oid%22%3a%22fa600c52-4b38-4d4c-bd4a-7f1ba8eab40d%22%7d … Sessione d’esame di Affidabilità dei dispositivi elettronici 15 Giugno 2020 ore 10 https://teams.microsoft.com/l/meetup-join/19%3a605c4ed6f04e49068400fe19f02cbc5d%40thread.tacv2/1592147664955?context=%7b%22Tid%22%3a%226bfa74cc-fe34-4d57-97d3-97fd6e0edee1%22%2c%22Oid%22%3a%22fa600c52-4b38-4d4c-bd4a-7f1ba8eab40d%22%7d …………………………….
 Scritto da alle 21:27
Lug 052018
 
… Sessione d’esame di Affidabilità dei dispositivi elettronici 15 Giugno 2020 ore 10 https://teams.microsoft.com/l/meetup-join/19%3a605c4ed6f04e49068400fe19f02cbc5d%40thread.tacv2/1592147664955?context=%7b%22Tid%22%3a%226bfa74cc-fe34-4d57-97d3-97fd6e0edee1%22%2c%22Oid%22%3a%22fa600c52-4b38-4d4c-bd4a-7f1ba8eab40d%22%7d …………………………….       La presentazione del “Laboratorio di Diagnostica dei dispositivi elettronici” si terrà venerdì 6 luglio 2018 alle ore 12 nella sala riunioni del pad M (ex edificio B). Tutti gli interessati sono invitati a partecipare. Per ulteriori informazioni contattare gmura@diee.unica.it
 Scritto da alle 11:10
Feb 012018
 
Programma: 1) visita ai laboratori e seminari presso il Centre Nationale de Estudes Spatiales (CNES)- Tolosa, Airbus, Intraspect Technologies e Thales Alenia Space 2) visita ai laboratori e seminari presso AlphaNov e aziende della Route des Lasers Bordeaux Data: -Domenica 18 Febbraio 2018 – Giovedì 22 Febbraio 2018  (3 giorni + viaggio) Motivazioni didattiche: Si intende proporre agli studenti un viaggio di istruzione presso importanti realtà industriali e di ricerca operanti nel settori dell’Aerospazio, della Fotonica e dell’ Affidabilità e Diagnostica. La visita affronterà i temi della ricerca scientifica della formazione e della cooperazione e impiego a livello europeo. Considerato [...]
 Scritto da alle 16:13

Failure Analysis Engineer – CNES

 diee, Ingegneria elettronica LM 2° anno  Commenti disabilitati su Failure Analysis Engineer – CNES
Apr 042017
 
Failure Analysis Engineer – CNES (Centre national d’études spatiales ) Place Toulouse Duration 18 months young engineer with a background in semiconductor physics and microelectronic domain per ulteriori informazioni contattare gmura@diee.unica.it
 Scritto da alle 18:43
Mar 152017
 
Lunedì 20 Marzo, dalle 15 alle 16 presso il Laboratorio LIDIA il Dr. Luca Maresi della European Space Agency presenterà le attività di ESA e le prospettive di collaborazione con la Università di Cagliari,  in particolare centrate sui sistemi e apparati ottici e fotonici per applicazioni spaziali.
 Scritto da alle 21:38
Nov 282016
 
Grazie al finanziamento della Regione Sardegna per i Visiting Professors, a partire dal 5 Dicembre il prof. Enrique Miranda dell’Università Autonoma di Barcellona terrà il seminario dal titolo: “Conduction, degradation and breakdown of thin oxide layers for nano and microelectronic applications”. La durata del seminario è di 10 ore articolate in 4 giorni. Il corso sarà in inglese ed è previsto un credito formativo a seguito del superamento del test finale. Per ulteriori informazioni contattare gmura@diee.unica.it 05/ 12 Lecture 1 Conventional electron transport mechanisms in thin oxides: Schottky, Poole-Frenkel, Direct and Fowler-Nordheim tunneling, Ohmic, Space Charge Limited, Trap-assisted conduction. 06/ [...]
 Scritto da alle 15:46
Nov 082016
 
Mercoledì 9 Novembre dalle ore 15 alle 18 in aula L si terranno i seguenti seminari: “From Failure Analysis to Corrective action definition”  Ing. Matteo Medda, “The importance of the sealing structures for the reliability of microelectronics devices: failure mechanism understanding and defectivity prediction”  Ing. Riccardo Enrici Vaion I relatori sono Ingegneri Elettronici del nostro ateneo rispettivamente Product Quality Engineer e Reliability Engineer della ST Microelectronics di Agrate (Mi). Per ulteriori informazioni contattare gmura@diee.unica.it
 Scritto da alle 15:44
Ott 192016
 
L’ iniziativa si terrà giovedì 20 Ottobre in aula B1 dalle 8.15 alle 11. Chiunque voglia contribuire con talk, presentazione di progetti e attività, video, esperimenti o curiosità è pregato di contattare gmura@diee.unica.it http://day-of-photonics.org/ http://unica.it/pub/7/show.jsp?id=33967&iso=97&is=7    
 Scritto da alle 14:02

Lezioni di Affidabilità

 Ingegneria elettronica LM 1° anno  Commenti disabilitati su Lezioni di Affidabilità
Set 252016
 
Il corso di Affidabilità dei Dispositivi inizierà Lunedì 26 Settembre 2016 alle ore 11 in aula R (pad. Presidenza) L’orario completo è disponibile alla pagina: http://facolta.unica.it/ingegneriarchitettura/files/2015/03/Elettronica-4.pdf Per ulteriori informazioni, consultare la docente.
 Scritto da alle 13:28
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