Mission
tipologia della struttura | Il centro di servizi di ateneo CGS (Centro Grandi Strumentei) nasce
dal PON LIMINA (Laboratorio Interdisciplinare di MIcroscopie e NAnoscopie) |
tipologia del progetto iniziale | PON “Ricerca scientifica, sviluppo tecnologico, alta formazione” 2000-2006 |
misura | Azione A della misura II.1 |
strumento d’attuazione | |
ente proponente | Universitá degli Studi di Cagliari |
ente attuatore | Universitá degli Studi di Cagliari |
partner | |
descrizione del progetto | |
obiettivi | LIMINA-Realizzazione di una struttura scientifica multifunzionale e multidisciplinare (PON. Prot. no165/RIC del 11 Febbraio 2003)
CGS-Creazione di una struttura per la gestione e potenziamento di LIMINA (D.R. nO. 28 del 12-10-2006). |
destinatari e beneficiari | Soggetti operanti in struttutre scientifiche ed industriali nel campo della scienza dei materiali, delle interfacce e strutture funzionali complesse (dispositivi) e sistemi microparticellari per farmaci e molecole bioattive interessati a caratterizzazioni di microscopia elettronica ed ottica, microanalisi e analisi nanostrutturale |
contenuti | Il CGS coordina le seguenti linee di caratterizzazione:
S1:Microscopio elettronico analitico ad alta risoluzione (costo Euro 645.187,17 oltre I.V.A Caratteristiche: HRTEM Ultra-Alta risoluzione a 200kV, con filamento a esaboruro di lantanio – risoluzione punto/punto 0.19 nm – portacampioni a singolo tilt e doppio tilt – Camera per registrare immagini TEM con qualità fotografica Sistema di Microanalisi EDS, completo di software per analisi qualitative e quantitative, hardware per mappe digitali Spettrometro EELS con risoluzione dell’ordine di 1.2 eV
S2: Microscopio elettronico a scansione a pressione variabile (costo Euro 364.987,50 oltre I.V.A). Caratteristiche: Microscopio elettronico a scansione con risoluzione nanometrica a pressione variabile (VP-SEM), equipaggiato con spettrometro EDS
S3: Preparativa campioni. Caratteristiche: plasma etching, lappatrice.
S4: Microscopio a forza atomica. (costo Euro 90.250,00 oltre I.V.A). Caratteristiche: microscopia a forza atomica (AFM) con opzione STM e cella per liquidi dedicata a studi a livello nanoscopici di fenomeni elettrochimici in ambiente umido.Software topografico con trattamento immagini
S5: Sistema per analisi di superfici. (costo Euro 516.667,00, oltre I.V.A). Caratteristiche: spettrometro i-XPS/SAM dotato di ottica elettronica per l’acquisizione parallela di immagini utilizzando una sorgente monocromatica microfocalizzata (i-XPS ris. < 3µm) ed un cannone elettronico ad emissione di campo per l’acquisizione di immagini di Microscopia Auger a scansione.
S6: Microscopio ottico confocale. (costo Euro 97.020,00 oltre I.V.A). Caratteristiche: microscopio confocale a scansione che operi in tre configurazioni fondamentali, riflessione, trasmissione e luminescenza, con risoluzione al limite della diffrazione ottica. Risoluzione verticale meccanica dell’ordine delle decine di nanometri. Righe di eccitazione: visibile. Software topografico con trattamento immagini.
S7: Microscopio ottico a campo vicino Caratteristiche: Microscopio LT-SNOM a scansione funzionante fino all’elio superfluido. Risoluzione dell’ordine di 50 nm.
S8: Sistema di eccitazione per misure di spettroscopia ottica (costo Euro 256.715,15 oltre I.V.A). Caratteristiche: Laser ultrastabile a stato solido raddoppiato in frequenza 10 W. Strumentazione da integrarsi con il sistema Laser Ti:Zaffiro per generazione di impulsi NIR, Visibile e UV con durata temporale di 100 fs ad alta potenza e bassa ripetizione.
S9: Sistema eccitazione e di rivelazione integrato per misure di spettroscopia ottica ad altissima sensibilità. (costo Euro 296.500,00 oltre I.V.A). Caratteristiche: Laser di eccitazione e streak camera per misure ottiche risolte in tempo fino al picosecondo e range spettrale UV-VIS-NIR. Elettronica di controllo e acquisizione simultaneo spettrale e temporale tramite CCD raffreddato LN. Spettrometro imaging per streak-camera.
S10: Micro-diffrattometro X. (costo Euro 154.000,00 oltre I.V.A). Caratteristiche: diffrattometro multipurpose (MPD), con geometria in trasmissione, Bragg-Brentano e per microdiffrazione. Rivelatore veloce di tipo position sensitive o imaging plate e con camere per alta e bassa temperatura.
S11: Preparativa campioni e strati sottili. (costo Euro 142.560,00 oltre I.V.A). Caratteristiche: camera di sputtering per dielettrici con metallizzazione integrata. Glove boxes. spin coating.
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risultati ottenuti | Attivazione di tutte le linee di caratterizzazione e preparativa |
impatto sul territorio | Punto di riferimento e di consulenza per le per l’elaborazione e la gestione di progetti di ricerca interdisciplinare ed industriale |
risultati conseguiti ad oggi | · Creazione del Centro di Servizi di Ateneo CGS.
· Formazione di personale interno. · Piena operativitá di tutte le linee di caratterizzazione e preparative · Service e comesse da PMI per circa Euro 620.000
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criticità | Le risorse necessarie per coprire i costi di gestione quantificabili tra il 5-10% del costo degli strumenti.
Personale strutturato per il service esterno max 7unitá. |
azioni di comunicazione (applicazione Reg. CE n. 1159/2000 e Reg. CE 1260/1999) | |
azioni sul territorio | Attivazione del sito web |
strumenti adottati | Server |
partecipazioni ad azioni di comunicazione di terzi | Partecipazione a convegni scientifici nazionali ed internazionali, seminari e workshop |
partecipazione finanziaria | |
costo del progetto LIMINA | 3.612.413.00 |
fondi europei | 2.167.447.80 |
fondi di rotazione | 818.552.20 |
cofinanziamento | 626.413.00 |