Mission

dal PON LIMINA (Laboratorio Interdisciplinare di MIcroscopie e NAnoscopie)

CGS-Creazione di una struttura per la gestione e potenziamento di LIMINA (D.R. n^O. 28 del 12-10-2006).

S1:Microscopio elettronico analitico ad alta risoluzione

(costo Euro 645.187,17 oltre I.V.A

Caratteristiche: HRTEM Ultra-Alta risoluzione a 200kV, con filamento a esaboruro di lantanio – risoluzione punto/punto 0.19 nm – portacampioni a singolo tilt e doppio tilt – Camera per registrare immagini TEM con qualità fotografica

Sistema di Microanalisi EDS, completo di software per analisi qualitative e quantitative, hardware per mappe digitali

Spettrometro EELS con risoluzione dell’ordine di 1.2 eV

S2: Microscopio elettronico a scansione a pressione variabile

(costo Euro 364.987,50 oltre I.V.A).

Caratteristiche: Microscopio elettronico a scansione con risoluzione nanometrica a pressione variabile (VP-SEM), equipaggiato con spettrometro EDS

S3: Preparativa campioni.

Caratteristiche: plasma etching, lappatrice.

S4: Microscopio a forza atomica.

(costo Euro 90.250,00 oltre I.V.A).

Caratteristiche: microscopia a forza atomica (AFM) con opzione STM e cella per liquidi dedicata a studi a livello nanoscopici di fenomeni elettrochimici in ambiente umido.Software topografico con   trattamento immagini

S5: Sistema per analisi di superfici.

(costo Euro 516.667,00, oltre I.V.A).

Caratteristiche: spettrometro i-XPS/SAM dotato di ottica elettronica per l’acquisizione parallela di immagini utilizzando una sorgente monocromatica microfocalizzata (i-XPS ris. < 3µm) ed un cannone elettronico ad emissione di campo per l’acquisizione di immagini di Microscopia Auger a scansione.

S6: Microscopio ottico confocale.

(costo Euro 97.020,00 oltre I.V.A).

Caratteristiche: microscopio confocale a scansione che operi in tre configurazioni fondamentali, riflessione, trasmissione e luminescenza, con risoluzione al limite della diffrazione ottica. Risoluzione verticale meccanica dell’ordine delle decine di nanometri. Righe di eccitazione: visibile. Software topografico con trattamento immagini.

S7: Microscopio ottico a campo vicino

Caratteristiche: Microscopio LT-SNOM a scansione funzionante fino all’elio superfluido. Risoluzione dell’ordine di 50 nm.

S8: Sistema di eccitazione per misure di spettroscopia ottica

(costo Euro 256.715,15 oltre I.V.A).

Caratteristiche: Laser ultrastabile a stato solido raddoppiato in frequenza 10 W. Strumentazione da integrarsi con il sistema Laser Ti:Zaffiro per generazione di impulsi NIR, Visibile e UV con durata temporale di 100 fs ad alta potenza e bassa ripetizione.

S9: Sistema eccitazione e di rivelazione integrato per misure di spettroscopia ottica ad altissima sensibilità.

(costo Euro 296.500,00 oltre I.V.A).

Caratteristiche: Laser di eccitazione e streak camera per misure ottiche risolte in tempo fino al picosecondo e range spettrale UV-VIS-NIR. Elettronica di controllo e acquisizione simultaneo spettrale e temporale tramite CCD raffreddato LN. Spettrometro imaging per streak-camera.

S10: Micro-diffrattometro X.

(costo Euro 154.000,00 oltre I.V.A).

Caratteristiche: diffrattometro multipurpose (MPD), con geometria in trasmissione, Bragg-Brentano e per microdiffrazione. Rivelatore veloce di tipo position sensitive o imaging plate e con camere per alta e bassa temperatura.

S11: Preparativa campioni e strati sottili.

(costo Euro 142.560,00 oltre I.V.A).

Caratteristiche: camera di sputtering per dielettrici con metallizzazione integrata. Glove boxes. spin coating.

·         Formazione di personale interno.

·         Piena operativitá di tutte le linee di caratterizzazione e preparative

·         Service e comesse da PMI per circa Euro 620.000

Personale strutturato per il service esterno max 7unitá.