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UNICA IRIS Institutional Research Information System

IRIS è il sistema di gestione integrata dei dati della ricerca (persone, progetti, pubblicazioni, attività) adottato dall'Università degli Studi di Cagliari dal mese di luglio 2015.

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TitoloData di pubblicazioneAutoriTipoAbstract
Optical gain in laser diodes with null reflectivity2019VANZI, MASSIMO  ; MURA, GIOVANNA  ; SANNA VALLE, VALERIO  ; 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Catastrophic Optical Damage of GaN-Based Diode Lasers: Sequence of Events, Damage Pattern, and Comparison with GaAs-Based Devices2018MURA, GIOVANNA  ; VANZI, MASSIMO  ; 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Optical gain beyond Hakki-Paoli. a new power tool for reliability of laser diodes2018VANZI, MASSIMO  ; MURA, GIOVANNA  ; SANNA VALLE, VALERIO  4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno
Further improvements of an extended Hakki-Paoli method2018VANZI, MASSIMO  ; MURA, GIOVANNA  ; MARTINES, GIOVANNI  1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Extended Modal Gain Measurement in DFB Laser Diodes2017VANZI, MASSIMO  ; MARCELLO, GIULIA  ; MURA, GIOVANNA  ; 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Analysis of GaN based high-power diode lasers after singular degradation events2017MURA, GIOVANNA  ; VANZI, MASSIMO  ; 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Practical optical gain by an extended Hakki-Paoli method2017VANZI, MASSIMO  ; MURA, GIOVANNA  ; 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Investigation of the time-dependent failure of InGaN-based LEDs submitted to reverse-bias stress2017MURA, GIOVANNA  ; VANZI, MASSIMO  ; MENEGHESSO, GAUDENZIO  ; 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno
Comparison of catastrophic optical damage events in GaAs- and GaN-based diode lasers2017MURA, GIOVANNA  ; VANZI, MASSIMO  ; 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno
Side-Mode Excitation in Single-Mode Laser Diodes2016VANZI, MASSIMO  ; MARCELLO, GIULIA  ; MURA, GIOVANNA  1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Nanoscale Investigation of Degradation and Wavelength Fluctuations in InGaN-Based Green Laser Diodes2016MURA, GIOVANNA  ; VANZI, MASSIMO  ; 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
ESD tests on 850 nm GaAs-based VCSELs2016VANZI, MASSIMO  ; MURA, GIOVANNA  ; MARCELLO, GIULIA  ; 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Rilievo 3D non a contatto: tecniche speciali per l'arte rupestre2016MANNU, CARLA  ; RODRIGUEZ, GIUSEPPE  ; VANZI, MASSIMO  2 Contributo in Volume::2.1 Contributo in volume (Capitolo o Saggio)
Logics of Failure Analysis: 20 Years of rules of the Rue Morgue2016MURA, GIOVANNA  ; VANZI, MASSIMO  4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno
Proton irradiation effects on commercial laser diodes2015MARCELLO, GIULIA  ; MURA, GIOVANNA  ; VANZI, MASSIMO  ; 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno
Clamp voltage and ideality factor in laser diodes2015VANZI, MASSIMO  ; MURA, GIOVANNA  ; MARCELLO, GIULIA  ; MARTINES, GIOVANNI  1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista-
Nuovi sviluppi nelle tecniche di stereofotometria 3D di incisioni e rilievi. Applicazioni nella tomba XV di Sos Furrighesos, Sardegna2015RODRIGUEZ, GIUSEPPE  ; TANDA, GIUSEPPA  ; VANZI, MASSIMO  4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno
Recent improvements in photometric stereo for rock art 3D imaging2015RODRIGUEZ, GIUSEPPE  ; TANDA, GIUSEPPA  ; VANZI, MASSIMO  1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Reliability issues in Optical Emitters2015VANZI, MASSIMO  ; MURA, GIOVANNA  4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno
Ideality factor and threshold voltage in laser diodes2014VANZI, MASSIMO  ; MURA, GIOVANNA  ; 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno
   
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