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Anagrafe della Ricerca

Titolo: Chemical Imaging of Buried Interfaces in Organic–Inorganic Devices Using Focused Ion Beam-Time-of-Flight-Secondary-Ion Mass Spectrometry
Autori: 
TIDDIA, MARIAVITALIA (Corresponding)
GILMORE, IAN STUART (Corresponding)
Data di pubblicazione: 2019
Rivista: 
ACS APPLIED MATERIALS & INTERFACES  
Handle: http://hdl.handle.net/11584/259158
Tipologia:1.1 Articolo in rivista
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