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UNICA IRIS Institutional Research Information System

IRIS è il sistema di gestione integrata dei dati della ricerca (persone, progetti, pubblicazioni, attività) adottato dall'Università degli Studi di Cagliari dal mese di luglio 2015.

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TitoloData di pubblicazioneAutoriTipoAbstract
Optical gain in laser diodes with null reflectivity2019VANZI, MASSIMO  ; MURA, GIOVANNA  ; SANNA VALLE, VALERIO  ; 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Catastrophic Optical Damage of GaN-Based Diode Lasers: Sequence of Events, Damage Pattern, and Comparison with GaAs-Based Devices2018MURA, GIOVANNA  ; VANZI, MASSIMO  ; 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Reliability concerns from the gray market2018MURA, GIOVANNA  1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
From automotive to space qualification: Overlaps, gaps and possible convergence2018MURA, GIOVANNA  4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno
Further improvements of an extended Hakki-Paoli method2018VANZI, MASSIMO  ; MURA, GIOVANNA  ; MARTINES, GIOVANNI  1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Optical gain beyond Hakki-Paoli. a new power tool for reliability of laser diodes2018VANZI, MASSIMO  ; MURA, GIOVANNA  ; SANNA VALLE, VALERIO  4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno
Extended Modal Gain Measurement in DFB Laser Diodes2017VANZI, MASSIMO  ; MARCELLO, GIULIA  ; MURA, GIOVANNA  ; 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Analysis of GaN based high-power diode lasers after singular degradation events2017MURA, GIOVANNA  ; VANZI, MASSIMO  ; 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Investigation of the time-dependent failure of InGaN-based LEDs submitted to reverse-bias stress2017MURA, GIOVANNA  ; VANZI, MASSIMO  ; MENEGHESSO, GAUDENZIO  ; 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno
Analytical model for the I-V characteristics of fresh and degraded commercial LEDs2017MURA, GIOVANNA  ; MIRANDA CASTELLANO, ENRIQUE ALBERTO  4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno
Practical optical gain by an extended Hakki-Paoli method2017VANZI, MASSIMO  ; MURA, GIOVANNA  ; 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Qualification extension of automotive smart power and digital ICs to harsh aerospace mission profiles: Gaps and opportunities2017MURA, GIOVANNA  ; 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Comparison of catastrophic optical damage events in GaAs- and GaN-based diode lasers2017MURA, GIOVANNA  ; VANZI, MASSIMO  ; 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno
Nanoscale Investigation of Degradation and Wavelength Fluctuations in InGaN-Based Green Laser Diodes2016MURA, GIOVANNA  ; VANZI, MASSIMO  ; 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Side-Mode Excitation in Single-Mode Laser Diodes2016VANZI, MASSIMO  ; MARCELLO, GIULIA  ; MURA, GIOVANNA  1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Reverse bias degradation of metal wrap through silicon solar cells2016MURA, GIOVANNA  ; 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
ESD tests on 850 nm GaAs-based VCSELs2016VANZI, MASSIMO  ; MURA, GIOVANNA  ; MARCELLO, GIULIA  ; 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Single Event Transient acquisition and mapping for space device Characterization2016PILIA, ROBERTA  ; MURA, GIOVANNA  ; 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Logics of Failure Analysis: 20 Years of rules of the Rue Morgue2016MURA, GIOVANNA  ; VANZI, MASSIMO  4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno
Proton irradiation effects on commercial laser diodes2015MARCELLO, GIULIA  ; MURA, GIOVANNA  ; VANZI, MASSIMO  ; 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno
Clamp voltage and ideality factor in laser diodes2015VANZI, MASSIMO  ; MURA, GIOVANNA  ; MARCELLO, GIULIA  ; MARTINES, GIOVANNI  1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista-
Degradation mechanisms and lifetime of state-of-the-art green laser diodes2015MURA, GIOVANNA  ; 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Stress-induced instabilities of shunt paths in high efficiency MWT solar cells2015MURA, GIOVANNA  ; 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno
Reliability issues in Optical Emitters2015VANZI, MASSIMO  ; MURA, GIOVANNA  4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno
FIB-induced electro-optical alterations in a DFB InP laser diode2014MURA, GIOVANNA  ; VANZI, MASSIMO  ; 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Ideality factor and threshold voltage in laser diodes2014VANZI, MASSIMO  ; MURA, GIOVANNA  ; 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno
Microscopic-scale investigation of the degradation of InGaN-based laser diodes submitted to electrical stress2014MURA, GIOVANNA  ; 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno
Reliability prediction and real world for LED lamps2014MURA, GIOVANNA  ; VANZI, MASSIMO  4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno
Influence of shunt resistance on the performance of an illuminated string of solar cells: Theory, simulation, and experimental analysis2014MURA, GIOVANNA  ; 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Early stages of the mechanical alloying of TiC-TiN powder mixtures2013MURA, GIOVANNA  ; DELOGU, FRANCESCO  1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Thermal and electrical investigation of the reverse bias degradation of silicon solar cells2013VANZI, MASSIMO  ; MURA, GIOVANNA  ; 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Faulty failure analyses2013MURA, GIOVANNA  ; VANZI, MASSIMO  4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno-
Formation of metastable solid solutions by mechanical alloying of immiscible Ag and Bi2013MURA, GIOVANNA  ; DELOGU, FRANCESCO  1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Degradation of InGaN/GaN laser diodes investigated by micro-cathodoluminescence and micro-photoluminescence2013MURA, GIOVANNA  ; 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Optical losses in single-mode laser diodes2013VANZI, MASSIMO  ; MURA, GIOVANNA  ; 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
“Hot-plugging” of led modules: electrical characterization and device degradation2013MURA, GIOVANNA  ; VANZI, MASSIMO  ; 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
The role of the optical trans-characteristics in laser diode analysis2013MURA, GIOVANNA  ; VANZI, MASSIMO  ; 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
A novel degradation mechanism of AlGaN/GaN/Silicon heterostructures related to the generation of interface traps2012MURA, GIOVANNA  ; VANZI, MASSIMO  ; 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno
MIM Capacitor_related early-stage field failures2012MURA, GIOVANNA  1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Chip and package-related degradation of high power white LEDs2012MURA, GIOVANNA  ; VANZI, MASSIMO  ; 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Phosphors for LED-based light sources: Thermal properties and reliability issues2012MURA, GIOVANNA  ; VANZI, MASSIMO  ; 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
External cavity ITLA degradation2012MURA, GIOVANNA  ; VANZI, MASSIMO  ; MARTINES, GIOVANNI  ; 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno-
DC parameters for laser diodes from experimental curves2011VANZI, MASSIMO  ; MURA, GIOVANNA  ; MARTINES, GIOVANNI  1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Degradation mechanisms of white LEDs for lighting applications2010MURA, GIOVANNA  ; VANZI, MASSIMO  ; 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno-
The interpretation of the DC characteristics of LED and laser diodes to address their failure analysis2010MURA, GIOVANNA  ; VANZI, MASSIMO  1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
A review on the physical mechanisms that limit the reliability of GaN-based LEDs2010MURA, GIOVANNA  ; 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista-
Faulty Failure Analyses2010MURA, GIOVANNA  ; VANZI, MASSIMO  4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno-
Lot reliability issues in commercial off the shelf (COTS) microelectronic devices2009MURA, GIOVANNA  ; VANZI, MASSIMO  1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista-
Analysis of the degradation of AlGaN-based deep-ultraviolet LEDs2009MURA, GIOVANNA  ; VANZI, MASSIMO  ; 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno-
Sulfur-contamination of High Power White LEDs2008MURA, GIOVANNA  ; VANZI, MASSIMO  1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
   
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