| Titolo | Data di pubblicazione | Autori | Tipo | Abstract |
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| Optical gain in laser diodes with null reflectivity | 2019 | VANZI, MASSIMO ; MURA, GIOVANNA ; A. Rampulla; R. Marchetti; V. Sanna Valle; Y. Uenoc | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | |
| Reliability concerns from the gray market | 2018 | MURA, GIOVANNA | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | |
| From automotive to space qualification: Overlaps, gaps and possible convergence | 2018 | Vaion, R. Enrici; Medda, M.; Mancaleoni, A.; MURA, GIOVANNA | 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno | |
| Catastrophic Optical Damage of GaN-Based Diode Lasers: Sequence of Events, Damage Pattern, and Comparison with GaAs-Based Devices | 2018 | Tomm, Jens W.; Kernke, Robert; MURA, GIOVANNA ; VANZI, MASSIMO ; Hempel, Martin; Acklin, Bruno | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | |
| Optical gain beyond Hakki-Paoli. a new power tool for reliability of laser diodes | 2018 | VANZI, MASSIMO ; MURA, GIOVANNA ; SANNA VALLE, VALERIO | 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno | |
| Further improvements of an extended Hakki-Paoli method | 2018 | VANZI, MASSIMO ; MURA, GIOVANNA ; MARTINES, GIOVANNI | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | |
| Extended Modal Gain Measurement in DFB Laser Diodes | 2017 | VANZI, MASSIMO ; MARCELLO, GIULIA ; MURA, GIOVANNA ; Le Gales, G; Joly, S; Deshayes, Y; Bechou, L. | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | |
| Analysis of GaN based high-power diode lasers after singular degradation events | 2017 | MURA, GIOVANNA ; VANZI, MASSIMO ; Hempel, Martin; Tomm, Jens W. | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | |
| Investigation of the time-dependent failure of InGaN-based LEDs submitted to reverse-bias stress | 2017 | De Santi, Carlo; Meneghini, Matteo; Renso, Nicola; Buffolo, Matteo; Trivellin, Nicola; MURA, GIOVANNA ; VANZI, MASSIMO ; Migliori, Andrea; Morandi, Vittorio; MENEGHESSO, GAUDENZIO ; Zanoni, Enrico | 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno | |
| Qualification extension of automotive smart power and digital ICs to harsh aerospace mission profiles: Gaps and opportunities | 2017 | Enrici Vaion, R.; Medda, M.; Mancaleoni, A.; MURA, GIOVANNA ; Pintus, A.; De Tomasi, M. | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | |
| Analytical model for the I-V characteristics of fresh and degraded commercial LEDs | 2017 | MURA, GIOVANNA ; MIRANDA CASTELLANO, ENRIQUE ALBERTO | 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno | |
| Practical optical gain by an extended Hakki-Paoli method | 2017 | VANZI, MASSIMO ; Marcello, G.; MURA, GIOVANNA ; Le Galès, G.; Joly, S.; Deshayes, Y.; Bechou, L. | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | |
| Comparison of catastrophic optical damage events in GaAs- and GaN-based diode lasers | 2017 | Tomm J. W.; Kernke R.; MURA, GIOVANNA ; VANZI, MASSIMO ; Hempel M. | 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno | |
| Nanoscale Investigation of Degradation and Wavelength Fluctuations in InGaN-Based Green Laser Diodes | 2016 | De Santi, Carlo; Meneghini, Matteo; Gachet, David; MURA, GIOVANNA ; VANZI, MASSIMO ; Meneghesso, Gaudenzio; Zanoni, Enrico | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | |
| Side-Mode Excitation in Single-Mode Laser Diodes | 2016 | VANZI, MASSIMO ; Xiao, K.; MARCELLO, GIULIA ; MURA, GIOVANNA | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | |
| Reverse bias degradation of metal wrap through silicon solar cells | 2016 | Barbato, M.; Barbato, A.; Meneghini, M.; Cester, A.; MURA, GIOVANNA ; Tonini, D.; Voltan, A.; Cellere, G.; Meneghesso, G. | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | |
| Single Event Transient acquisition and mapping for space device Characterization | 2016 | PILIA, ROBERTA ; Bascoul, Guillaume; Sanchez, Kevin; MURA, GIOVANNA ; Infante, Fulvio | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | |
| ESD tests on 850 nm GaAs-based VCSELs | 2016 | VANZI, MASSIMO ; MURA, GIOVANNA ; MARCELLO, GIULIA ; Xiao, K. | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | |
| Logics of Failure Analysis: 20 Years of rules of the Rue Morgue | 2016 | MURA, GIOVANNA ; VANZI, MASSIMO | 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno | |
| Clamp voltage and ideality factor in laser diodes | 2015 | VANZI, MASSIMO ; MURA, GIOVANNA ; MARCELLO, GIULIA ; MARTINES, GIOVANNI | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | - |
| Reliability issues in Optical Emitters | 2015 | VANZI, MASSIMO ; MURA, GIOVANNA | 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno | |
| Proton irradiation effects on commercial laser diodes | 2015 | MARCELLO, GIULIA ; MURA, GIOVANNA ; VANZI, MASSIMO ; Bagatin, Marta; Gerardin, Simone; Paccagnella, Alessandro | 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno | |
| Stress-induced instabilities of shunt paths in high efficiency MWT solar cells | 2015 | Barbato, M.; Meneghini, M.; Cester, A.; Barbato, A.; Zanoni, E.; Meneghesso, G.; MURA, GIOVANNA ; Tonini, D.; Voltan, A.; Cellere, G. | 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno | |
| Degradation mechanisms and lifetime of state-of-the-art green laser diodes | 2015 | Marioli, M; Meneghini, M; Rossi, F; Salviati, G; de Santi, C; MURA, GIOVANNA ; Meneghesso, G; Zanoni E. | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | |
| Microscopic-scale investigation of the degradation of InGaN-based laser diodes submitted to electrical stress | 2014 | Meneghini M; Carraro S; Meneghesso G; Trivellin N; MURA, GIOVANNA ; Rossi F; Salviati G; Holc K; Weig T; Schade L; Karunakaran M; Wagner J; Schwarz U. T; Zanoni E. | 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno | |
| Influence of shunt resistance on the performance of an illuminated string of solar cells: Theory, simulation, and experimental analysis | 2014 | Barbato M.; Meneghini M; Cester A; MURA, GIOVANNA ; Zanoni E; Meneghesso G. | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | |
| FIB-induced electro-optical alterations in a DFB InP laser diode | 2014 | MURA, GIOVANNA ; VANZI, MASSIMO ; Marcello G. | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | |
| Ideality factor and threshold voltage in laser diodes | 2014 | VANZI, MASSIMO ; MURA, GIOVANNA ; Marcello G. | 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno | |
| Reliability prediction and real world for LED lamps | 2014 | MURA, GIOVANNA ; VANZI, MASSIMO | 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno | |
| Formation of metastable solid solutions by mechanical alloying of immiscible Ag and Bi | 2013 | Musu E.; MURA, GIOVANNA ; Ligios G.; DELOGU, FRANCESCO | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | |
| Faulty failure analyses | 2013 | MURA, GIOVANNA ; VANZI, MASSIMO | 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno | - |
| Optical losses in single-mode laser diodes | 2013 | VANZI, MASSIMO ; MURA, GIOVANNA ; Marongiu M.; Tomasi T. | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | |
| The role of the optical trans-characteristics in laser diode analysis | 2013 | MURA, GIOVANNA ; VANZI, MASSIMO ; Marcello G.; Cao R. | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | |
| “Hot-plugging” of led modules: electrical characterization and device degradation | 2013 | Dal Lago M; Meneghini M; Trivellin N; MURA, GIOVANNA ; VANZI, MASSIMO ; Meneghesso G; Zanoni E. | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | |
| Degradation of InGaN/GaN laser diodes investigated by micro-cathodoluminescence and micro-photoluminescence | 2013 | M. MENEGHINI; S. CARRARO; G. MENEGHESSO; N. TRIVELLIN; MURA, GIOVANNA ; F. ROSSI; G. SALVIATI; K. HOLC; T. WEIG; L. SCHADE; M. A. KARUNAKARAN; J. WAGNER; U. T. SCHWARZ; AND E. ZANONI | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | |
| Thermal and electrical investigation of the reverse bias degradation of silicon solar cells | 2013 | COMPAGNIN A; MENEGHINI M; BARBATO M; GILIBERTO V; CESTER A; VANZI, MASSIMO ; MURA, GIOVANNA ; ZANONI E; MENEGHESSO G. | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | |
| Early stages of the mechanical alloying of TiC-TiN powder mixtures | 2013 | MURA, GIOVANNA ; Musu E; DELOGU, FRANCESCO | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | |
| MIM Capacitor_related early-stage field failures | 2012 | LU J; CAO B; WU W; DAI Y; HUANG C; MURA, GIOVANNA | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | |
| External cavity ITLA degradation | 2012 | MURA, GIOVANNA ; VANZI, MASSIMO ; MARTINES, GIOVANNI ; T. Tomasi; R. Cao; M. Marongiu | 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno | - |
| A novel degradation mechanism of AlGaN/GaN/Silicon heterostructures related to the generation of interface traps | 2012 | M. Meneghini; M. Bertin; G. dal Santo; A. Stocco; A. Chini; D. Marcon; P. E. Malinowski; MURA, GIOVANNA ; E. Musu; VANZI, MASSIMO ; G. Meneghesso; E. Zanoni | 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno | |
| Chip and package-related degradation of high power white LEDs | 2012 | Meneghini M; Dal Lago M; Trivellin N; MURA, GIOVANNA ; VANZI, MASSIMO ; Menegnesso G; Zanoni E. | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | |
| Phosphors for LED-based light sources: Thermal properties and reliability issues | 2012 | Dal Lago M; Meneghini M; Trivellin N; MURA, GIOVANNA ; VANZI, MASSIMO ; Meneghesso G; Zanoni E. | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | |
| DC parameters for laser diodes from experimental curves | 2011 | VANZI, MASSIMO ; MURA, GIOVANNA ; MARTINES, GIOVANNI | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | |
| A review on the physical mechanisms that limit the reliability of GaN-based LEDs | 2010 | MATTEO MENEGHINI; AUGUSTO TAZZOLI; GAUDENZIO MENEGHESSO; MURA, GIOVANNA ; ENRICO ZANONI | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | - |
| Degradation mechanisms of white LEDs for lighting applications | 2010 | M. MENEGHINI; M. DAL LAGO; L. RODIGHIERO; MURA, GIOVANNA ; VANZI, MASSIMO ; G. MENEGHESSO | 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno | - |
| The interpretation of the DC characteristics of LED and laser diodes to address their failure analysis | 2010 | MURA, GIOVANNA ; VANZI, MASSIMO | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | |
| Faulty Failure Analyses | 2010 | MURA, GIOVANNA ; VANZI, MASSIMO | 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno | - |
| Analysis of the degradation of AlGaN-based deep-ultraviolet LEDs | 2009 | Meneghesso G; Meneghini M; Trivellin N; Rodighiero L; MURA, GIOVANNA ; VANZI, MASSIMO ; Zanoni E. | 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno | - |
| Lot reliability issues in commercial off the shelf (COTS) microelectronic devices | 2009 | MURA, GIOVANNA ; VANZI, MASSIMO | 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista | - |
| Study of the factors that limit the reliability of
GaN-based LEDs at high temperature levels | 2008 | MURA, GIOVANNA ; L. TREVISANELLO; VANZI, MASSIMO ; G. MENEGHESSO; E. ZANONI | 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno | - |
