Curriculum

 

Giovanna Mura è ricercatrice a tempo determinato del Gruppo di Elettronica presso il Dipartimento di Ingegneria Elettrica ed Elettronica dell’ Università di Cagliari dal novembre 2012.

Dall’anno accademico 2018-19 è docente del corso di “Affidabilità dei componenti elettronici“ (5 CFU) della Magistrale di Ing. Elettronica (percorso comune) dell’Università degli studi di Cagliari.

Dall’a.a 2016-17 è docente del corso “Diagnostics of Electron Devices ” (corso a scelta) per il Dottorato in Ing. dell’ Informazione dell’Università degli Studi di Padova.

Dall’a.a 2013-14 (e fino all’anno accademico 2017-18) è stata docente del modulo di “Affidabilità dei dispositivi” (5 CFU) del corso integrato: Optoelettronica e Affidabilità dei dispositivi per la Magistrale di Ing. Elettronica

Dall’a.a 2012-13 è docente del “Laboratorio di Diagnostica dei dispositivi elettronici“(2 CFU), esame a scelta per la Laurea Triennale e Magistrale in Ing. Elettronica, per i corsi di Dottorato di Ing. Elettronica

La sua attività è attualmente incentrata su:

  • Grafene
  • Contraffazione elettronica
  • Affidabilità dell’elettronica in harsh environments (automotive, space…)
  • Tecnologie innovative nel campo della elettronica, fotonica e sensoristica
  • Metodologia per la Failure Analysis di dispositivi elettronici
  • Microscopia elettronica (in scansione, trasmissione, ionica) applicata all’elettronica e alle scienze dei materiali.

Presso l’ Università di Cagliari ha conseguito il titolo di:

Dottore in Ingegneria Elettronica il 25 ottobre 2000 con tesi riguardante: Fenomeni di soft breakdown e hard breakdown nel biossido ultra-sottile di un MOS (relatori prof. M. Vanzi, prof. J. Suñe, prof. E.  Miranda), tesi svolta presso il Department Enginyeria Electronica, Universitat Autonoma de Barcelona mediante un progetto Erasmus

Dottore di Ricerca in Ingegneria Elettronica ed Informatica, in data 11 marzo 2004 con la tesi dal titolo “Metodi diagnostici per la microelettronica. Problemi, soluzioni e applicazioni ai dispositivi avanzati”, relatore Prof. M. Vanzi (DIEE-Università degli Studi di Cagliari);

ll 4 Aprile 2017 ha conseguito l’abilitazione scientifica nazionale (ASN 2016) per l’accesso alla seconda fascia, settore concorsuale 09/E3 Elettronica.

Dall’Aprile 2019 fa parte del collegio dei docenti del DRIEI (Dottorato di Ricerca in Ingegneria Elettronica e Informatica Scuola di Dottorato in Ingegneria dell’Informazione) di UNICA.

Talks su invito:

  • (2019) IPFA 2019 exchange paper
  • (2019) Aldo Armigliato SEM School in Materials Science- invited speaker  Title: “Scanning Electron Microscopy in Failure Analysis”
  • (2018) IPFA 2018- invited speaker  Title: From Automotive to Space qualification: Overlaps, gaps and possible convergence”
  • (2018) ISTFA 2018 exchange paper (not speaker) Title: Single event transient acquisition and mapping for space device characterization”
  • (2018) SIE 2018 PhD school- invited speaker Title: “Diagnostics of electron devices: a real shortcut to reliability improvements
  • (2018) MRS 2018- EP04 – invited speaker Title: “Diagnostics of electron devices: Fundamentals and Logics”
  • (2017) School of Scanning Electron Microscopy in Materials Science – invited speaker Title: “SEM Applications in Device Diagnostics”
  • (2017) ESREF 2017 invited paper (not speaker) Title: “Qualification Extension of Automotive Smart Power and Digital ICs to Harsh Aerospace Mission Profiles: Gaps and Opportunities”
  • (2016) IPFA 2016 invited speaker  Title: “Logics of Failure Analysis: 20 years of Rules of the Rue Morgue”
  • (2016) PhD Summer School “Italo Gorini” – invited speaker  Title: “Life Time measurements in Electron Devices and Systems”
  • (2015) School of Scanning Electron Microscopy on nanostructured materials and innovative applications-  invited speaker Title: “Photometric Stereo at the SEM. Application to microelectronics”

Esperienze all’estero:

  • (2000) ERASMUS presso Department Enginyeria Electronica, Universitat Autonoma de Barcelona (5 mesi)
  • (2004) Progetto giovani ricercatori presso Swiss Federal Institute of Technology (ETH) di Zurigo (4 mesi)
  • (2019) ERASMUS+ Teaching and Training presso Belarusian State University di Minsk (10 giorni)

Collaborazioni di ricerca:

  • CNES Toulose –France
  • ETHz Zurich– Switzerland
  • DEI – University of Padova – Italy
  • IMM – CNR Bologna – Italy
  • University of Modena and Reggio Emilia – Italy
  • Autonomous University of Barcelona – Spain
  • Max-Born-Institut – Berlin – Germany
  • ST Microelectronics – Agrate- Italy
  • Intraspect Technologies– Toulose- France
  • Huawei Technologies – Shenzen– China
  • Datalogic  SpA– Bologna – Italy
  • IMS- Bordeaux- France
  • Electrical and Electronic Information Engineering- University of Toyohashi- Japan
  • Belarusian State University- Minsk- Belarus

Attività lavorative precedenti:

  • Dicembre 2010 – Ottobre 2012 Ricercatore senior presso il Laboratorio di Telemicroscopia Industriale (Distretto ICT) – Crs4
  • Ottobre 2007- Dicembre 2009 Ricercatore senior presso il Laboratorio di Telemicroscopia Industriale (Distretto ICT) – Sardegna Ricerche
  • Febbraio 2004 – Febbraio 2007 Assegno di ricerca sulla tematica: ”Microscopia Elettronica per la Diagnostica della Microelettronica”
  • 02 Febbraio 2001- 31 Gennaio 2002 Sw jr developer per lo sviluppo di applicazioni Object Oriented per sistemi telematici distribuiti presso FST (Fabbrica servizi telematici) – UTA (CA)

contratti privati per attività di ricerca presso il DIEE:

  • Caratterizzazioni ed analisi di dispositivi MMIC in GaAs (2011)
  • Sviluppo di tecniche di deprocessing selettivo su dispositivi elettronici avanzati (2007)
  • Sviluppo di tecniche di microscopia elettronica in trasmissione in campo biologico e microelettronico (2007)
  • Modelli affidabilistici avanzati per i dispositivi elettronici (2006)

 

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