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Titolo: Characterisation of an X-Ray System with GaAs Detector for Composite Material Analysis
Autori: 
Data di pubblicazione: 1998
Rivista: 
KEY ENGINEERING MATERIALS  
Abstract: Here a first X-ray microtomograph for analysing defects in composite materials is described and characterised. After a brief presentation of the system, the characterisation tests conducted to assess its efficiency are discussed.
Handle: http://hdl.handle.net/11584/5082
ISBN: 1013-9826
Tipologia:4.1 Contributo in Atti di convegno

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