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Titolo: | Phonon scattering in silicon by multiple morphological defects: a multiscale analysis |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2018 |
Rivista: | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11584/249535 |
Tipologia: | 1.1 Articolo in rivista |
File in questo prodotto:
File | Descrizione | Tipologia | Licenza | |
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JElectrMat - Phonon Scattering in Silicon by Multiple Morphological Defects-A Multiscale Analysis.pdf | versione post-print | Administrator Richiedi una copia |