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| Titolo: | Phonon scattering in silicon by multiple morphological defects: a multiscale analysis |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2018 |
| Rivista: | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11584/249535 |
| Tipologia: | 1.1 Articolo in rivista |
File in questo prodotto:
| File | Descrizione | Tipologia | Licenza | |
|---|---|---|---|---|
| JElectrMat - Phonon Scattering in Silicon by Multiple Morphological Defects-A Multiscale Analysis.pdf | versione post-print | Administrator Richiedi una copia |
