Prodotti della ricerca
| Titolo: | Direct imaging of defect formation in strained organic flexible electronics by Scanning Kelvin Probe Microscopy |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2016 |
| Rivista: | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11584/213930 |
| Tipologia: | 1.1 Articolo in rivista |
File in questo prodotto:
| File | Descrizione | Tipologia | Licenza | |
|---|---|---|---|---|
| A048_Kelvin Probe on TIPS_srep38203.pdf | versione editoriale | Open Access Visualizza/Apri |
