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UNICA IRIS Institutional Research Information System

IRIS è il sistema di gestione integrata dei dati della ricerca (persone, progetti, pubblicazioni, attività) adottato dall'Università degli Studi di Cagliari dal mese di luglio 2015.

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TitoloData di pubblicazioneAutoriTipoAbstract
Further improvements of an extended Hakki-Paoli method2018VANZI, MASSIMO  ; MURA, GIOVANNA  ; MARTINES, GIOVANNI  1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
Clamp voltage and ideality factor in laser diodes2015VANZI, MASSIMO  ; MURA, GIOVANNA  ; MARCELLO, GIULIA  ; MARTINES, GIOVANNI  1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista-
Ultra-low voltage, self-aligned OTFTs for frequency applications2013LAI, STEFANO  ; COSSEDDU, PIERO  ; MARTINES, GIOVANNI  ; BONFIGLIO, ANNALISA  ; BARBARO, MASSIMO  1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
External cavity ITLA degradation2012MURA, GIOVANNA  ; VANZI, MASSIMO  ; MARTINES, GIOVANNI  ; 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno-
DC parameters for laser diodes from experimental curves2011VANZI, MASSIMO  ; MURA, GIOVANNA  ; MARTINES, GIOVANNI  1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista
A novel approach to determine the start-up conditions in microwave negative impedance oscillator design2007MARTINES, GIOVANNI  4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno
An automated lifetest equipment for optical emitters2002MARTINES, GIOVANNI  ; MURA, GIOVANNA  ; PODDA, SIMONA  ; VANZI, MASSIMO  1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista-
A global approach to the noise and small-signal characterization of microwave field-effect transistors2001MARTINES, GIOVANNI  4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno-
A simpler method for life-testing laser diodes1999VANZI, MASSIMO  ; MARTINES, GIOVANNI  ; BONFIGLIO, ANNALISA  ; 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno-
DC, low frequency and RF drift in AlGaAs/InGaAs PM-HEMTs biased in high field and high power dissipation regime1998MARTINES, GIOVANNI  ; 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno-
Failure mechanisms of Schottky gate contact degradation and deep traps creation in AlGaAs/InGaAs PM-HEMT submitted to accelerated life tests1998MARTINES, GIOVANNI  ; 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista-
Failure mechanisms of Schottky gate contact degradation and deep traps creation in AlGaAs/InGaAs PM-HEMT’s submitted to accelerated life tests1998MARTINES, GIOVANNI  ; 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno-
Charge diffusion and reciprocity theorems: A direct approach to EBIC of ridge laser diodes1996MARTINES, GIOVANNI  ; VANZI, MASSIMO  4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno-
Noisy characterization for CAD-oriented modeling of a pseudomorphic HEMT series versus frequency and temperature1996MARTINES, GIOVANNI  ; 2 Contributo in Volume::2.1 Contributo in volume (Capitolo o Saggio)-
Proposal of up-to-date standards on methods of measuring noise in linear two-ports1994MARTINES, GIOVANNI  ; 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno-
The determination of noise, gain and scattering parameters of microwave transistors (HEMTs) using only an automatic noise figure test-set1994MARTINES, GIOVANNI  ; 1 Contributo su Rivista::1.1 Articolo in rivista-
CAD-oriented modeling of pseudomorphic HEMTs from simultaneous noise and scattering measurements1993MARTINES, GIOVANNI  ; 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno-
Full characterization of low-noise HEMTs using only noise figure measurements1993MARTINES, GIOVANNI  ; 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno-
Statistical modeling of pseudomorphic HEMTs from automated noise and scattering parameter measurements1993MARTINES, GIOVANNI  ; 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno-
CAD-oriented HEMT models from noise and scattering measurements1992MARTINES, GIOVANNI  ; 4 Contributo in Atti di Convegno (Proceeding)::4.1 Contributo in Atti di convegno-
   
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