Prodotti della ricerca

 
Titolo: Phonon scattering in silicon by multiple morphological defects: a multiscale analysis
Autori: 
COLOMBO, LUCIANO [Conceptualization]
Data di pubblicazione: 2018
Rivista: 
JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS  
Handle: http://hdl.handle.net/11584/249535
Tipologia:1.1 Articolo in rivista

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FileDescrizioneTipologiaLicenza 
JElectrMat - Phonon Scattering in Silicon by Multiple Morphological Defects-A Multiscale Analysis.pdf versione post-printAdministrator   Richiedi una copia
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