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Titolo: Gold removal in failure analysis of GaAs-based laser diodes
Autori: 
Data di pubblicazione: 1999
Rivista: 
MICROELECTRONICS RELIABILITY  
Citazione: Gold removal in failure analysis of GaAs-based laser diodes / M. Vanzi; A. Bonfiglio; P. Salaris; Deplano P; E. F. Trogu; A. Serpe; G. Salmini; R. De Palo. - 39(1999), pp. 1043-1047.
Handle: http://hdl.handle.net/11584/95943
Tipologia:1.1 Articolo in rivista

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